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分類(lèi)：行業(yè)動(dòng)態(tài) 發(fā)布時(shí)間：2023-09-07 3650次瀏覽
同一個(gè)產(chǎn)品，采用不同的制造工藝，檢測(cè)設(shè)備也有所不同，比如硅片在生產(chǎn)過(guò)程中，有需要看槽深的，有需要看芯片切割后是否有隱裂，有直接看外觀的，無(wú)論您需要哪種光學(xué)檢測(cè)，匯光科技均有專(zhuān)用半導(dǎo)體顯微鏡供應(yīng)，有現(xiàn)貨哦。
在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，如IC芯片缺陷檢測(cè)，光罩檢測(cè)，硅片檢查，引線(xiàn)高度測(cè)試，芯片表面分析，晶圓切割檢查等都會(huì)用到河南半導(dǎo)體顯微鏡，下面匯光科技為大家展示一些近期為客戶(hù)做的河南半導(dǎo)體顯微鏡應(yīng)用案例。
光罩表面檢測(cè)顯微鏡
硅片切割后外觀檢測(cè)
硅片二次光刻檢查
晶圓氧化層厚度檢查
IC芯片內(nèi)部隱裂觀察
硅片mark標(biāo)記
引線(xiàn)高度測(cè)試
芯片表面分析
河南半導(dǎo)體顯微鏡應(yīng)用還有很多，由于本頁(yè)內(nèi)容有限，感興趣的朋友可來(lái)電咨詢(xún),也歡迎大家?guī)悠穪?lái)試樣測(cè)試。
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