分類:晶圓厚度形貌測量儀 發(fā)布時間:2022-01-08 15207次瀏覽
晶圓厚度形貌測量儀有半自動或全自動版本,大家可根據(jù)需求選購。
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晶圓厚度形貌測量儀有半自動或全自動版本,大家可根據(jù)需求選購。
產(chǎn)品詳情
●根據(jù)具體應(yīng)用場景,配備多種傳感器及算法模塊,穩(wěn)定高效的完成所需的測量工作。
●可針對某一層進行厚度采集,也可智能剔除不需要的表面結(jié)構(gòu)(如錫 球,銅柱)所帶來的厚度測量影響。
●可自如應(yīng)對多層結(jié)構(gòu),翹曲片等特殊場景。
●測厚標(biāo)準(zhǔn)模塊
(1)通過上下傳感器同步測試樣品上下表面,進行厚度測量
(2)如產(chǎn)品材質(zhì)(如崩膜,玻璃,硅片) 紅外光可穿透的話,可以只用單面?zhèn)鞲衅鬟M行測量
●粗糙度測量模塊
(1)基于白光干涉測頭的粗糙度測量方式
(2)標(biāo)配10X干涉鏡頭
(3)粗糙度范圍:1nm~1um
(4)粗糙度重復(fù)精度0.01nm
晶圓厚度形貌測量儀配置清單 | |
部 件 | 規(guī) 格 |
測量光學(xué)系統(tǒng) | 定制測厚模組(針對非翹曲晶圓,翹曲度<500um,厚度50-2000um兼容): 上下定制測量傳感器1套2個 單個探頭分辨率0.01um 單個探頭測量精度0.1um 翹曲<200um,測厚系統(tǒng)精度+/-0.5 um 翹曲200-500um,測厚系統(tǒng)精度+/-1 um
粗糙度模組(選配加裝模塊): 白光干涉?zhèn)鞲衅鳎?0X物鏡 探頭垂直分辨率0.1nm 粗糙度RMS重復(fù)性:0.01nm |
運動平臺 | 定制大理石基底水平載物臺,支持8,12寸Wafer和帶環(huán)Wafer 載臺挖孔排列和已有設(shè)備匹配 X軸: 行程 350mm,光柵尺定位,定位精度 +/-1um Y軸: 行程 350mm,光柵尺定位,定位精度 +/-1um |
計算機及軟件系統(tǒng) | Intel i5處理器,16G 內(nèi)存,512GB SSD 系統(tǒng)盤 + 1TB 數(shù)據(jù)備份盤 24寸顯示器1臺及鼠鍵套裝 定制檢測軟件系統(tǒng),包含數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng) 掃描路徑自動規(guī)劃功能,采點路徑可兼容目前已有機臺。 Excel報表生成功能 可對接廠內(nèi)服務(wù)器進行數(shù)據(jù)上傳,SECS/GEM協(xié)議標(biāo)準(zhǔn) 多級系統(tǒng)賬號權(quán)限:工程師/技術(shù)員/操作員 系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)控:狀態(tài)/錯誤事件信息/異常報警 可定制測量Recipe 雙硬盤數(shù)據(jù)備份 |
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