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分類:材料分析金相顯微鏡 發(fā)布時間:2020-07-03 13307次瀏覽
IE200M倒置式材料分析顯微鏡,操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、工程測量等領域。
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IE200M倒置式材料分析顯微鏡,操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、工程測量等領域。
產品詳情
高精度粗微動調焦機構
采用底手位粗微調同軸調焦機構,左右側均可調節(jié),微調精度高,手動調節(jié)簡單方便,用戶能夠輕松得到清晰舒服的圖像。粗調行程為38mm,微調精度0.002。
大尺寸機械移動平臺
采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移動的操作切換,為用戶提供效率更高的工作環(huán)境。
落射柯拉照明系統(tǒng)
采用180×155mm的大尺寸平臺,右手位設置,符合常規(guī)人群操作習慣。用戶操作過程中,便于調焦機構與平臺移動的操作切換,為用戶提供效率更高的工作環(huán)境。
IE200M倒置式材料分析顯微鏡配置參數(shù)
光學系統(tǒng) | 有限遠色差光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 45°傾斜,三目觀察筒,瞳距調節(jié)范圍:54-75mm,分光比:80:20 |
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm,可帶測微尺 |
高眼點大視野目鏡WF15X/13mm,可帶測微尺 | |
高眼點大視野目鏡WF20X/10mm,可帶測微尺 | |
物鏡 | 長工作距平場消色差金相物鏡(5X、10X、20X、50X 、100X) |
轉換器 | 內定位四孔轉換器 |
內定位五孔轉換器 | |
調焦機構 | 低手位粗微調同軸調焦機構,粗動每轉行程38 mm;微調精度0.02mm |
載物臺 | 三層機械移動平臺,面積180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm |
落射照明系統(tǒng) | 落射式柯拉照明系統(tǒng),帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,自適應寬電壓100V-240V,單顆5W 暖色LED燈,光強連續(xù)可調 |
落射式柯拉照明系統(tǒng),帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,自適應寬電壓100V-240V,6V30W鹵素燈,光強連續(xù)可調 | |
攝影攝像 | 0.5X/1X攝像接筒,C型接口,可調焦 |
其他 | 起偏鏡插板,固定式檢偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板;濾色片組;高精度測微尺 |
可選配件 | 電腦,相機,專業(yè)金相分析軟件 |
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