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無(wú)錫紅外金相顯微鏡
無(wú)錫紅外顯微鏡

分類(lèi):紅外金相顯微鏡 發(fā)布時(shí)間:2020-07-03 22105次瀏覽

紅外顯微鏡,專(zhuān)用于特殊產(chǎn)品檢測(cè),有需要的朋友可直接咨詢(xún)蘇州匯光科技。

無(wú)錫紅外顯微鏡

紅外顯微鏡,專(zhuān)用于特殊產(chǎn)品檢測(cè),有需要的朋友可直接咨詢(xún)蘇州匯光科技。

產(chǎn)品詳情

BX51-IR型近紅外顯微鏡

MX63L-IR型近紅外顯微鏡(12”晶圓檢查專(zhuān)用顯微鏡)

紅外物鏡

LMPLN5XIRLMPLN10XIRLCPLN20XIRLCPLN50XIRLCPLN100XIR注意



倍數(shù)數(shù)值孔徑工作距離(mm)硅片厚度分辨率(μm)
5X0.123——5.50
10X0.318——1.83
20X0.458.30-1.21.22
50X0.654.50-1.20.85
100X0.851.20-10.65


注:分辨率在1100nm波長(zhǎng)下計(jì)算


新舊紅外物鏡性能對(duì)比


LMPL20XIR(舊型號(hào))LCPLN20XIR(新型號(hào))LMPL50XIR(舊型號(hào))
LCPLN50XIR(新型號(hào))LMPL100XIR(舊型號(hào))LCPLN100XIR(新型號(hào))


紅外顯微鏡的應(yīng)用

– Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無(wú)損檢測(cè)

– 法拉第激光隔離器,Faraday Isolator近紅外無(wú)損檢測(cè)

– die chip 失效分析

– 紅外透射Wafer正反面定位標(biāo)記重合誤差無(wú)損測(cè)量

– 硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無(wú)損紅外檢測(cè)

– 太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)

Vcsel芯片隱裂(cracks)


法拉第激光隔離器膠合偏振片無(wú)損檢驗(yàn)

die chip 失效分析

紅外Wafer正反面定位標(biāo)記重合誤差無(wú)損測(cè)量

硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無(wú)損紅外檢測(cè)

太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)

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