近紅外顯微鏡采用紅外光源（波長在800nm到20μm）觀察產(chǎn)品，但是近紅外顯微鏡并非所有材質(zhì)都可以穿透觀察，今天小編和大家展示近紅外顯微鏡在半導體芯片檢測中的應(yīng)用案例。
1、半導體芯片內(nèi)部電路檢測?？葱酒瑑?nèi)部線路是否有短路，斷路，鍵合情況，是否有臟污等。
2、芯片mark標記檢測。
其他半導體芯片檢測圖
由上可以看出，近紅外顯微鏡外觀看起來和普通的合肥金相顯微鏡一樣，但是他像“透視眼”的功能普通合肥金相顯微鏡則沒有，感興趣的朋友可以先寄樣品來測試。
