近紅外顯微鏡采用紅外光源（波長在800nm到20μm）觀察產(chǎn)品，但是近紅外顯微鏡并非所有材質都可以穿透觀察，今天小編和大家展示近紅外顯微鏡在半導體芯片檢測中的應用案例。
1、半導體芯片內部電路檢測。看芯片內部線路是否有短路，斷路，鍵合情況，是否有臟污等。
2、芯片mark標記檢測。
其他半導體芯片檢測圖
由上可以看出，近紅外顯微鏡外觀看起來和普通的金相顯微鏡一樣，但是他像“透視眼”的功能普通金相顯微鏡則沒有，感興趣的朋友可以先寄樣品來測試。
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近紅外顯微鏡應用之半導體芯片檢測
分類：行業(yè)動態(tài) 發(fā)布時間：2023-12-19 3484次瀏覽
今年，匯光科技遇到許多在半導體芯片檢測上需要用到近紅外顯微鏡的，感興趣的朋友一起來看看吧
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